Zakład Inżynierii Molekularnej
Spektrometr fotoelektronów (XPS-AES-UPS) z celą do badań katalitycznych
– Kratos AXIS Ultra
Spektrometr fotoelektronów pozwala na analizę struktury chemicznej (składu pierwiastkowego i wiązań chemicznych) cienkich warstw powierzchniowych materiałów w stanie stałym. Głębokość detekcji: do 15 nm. Aparat pracuje w warunkach ultra wysokiej próżni i jest wyposażony w anodę aluminiową z monochromatorem do badań XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), lampę UV do analizy właściwości w zakresie pasma elektronów walencyjnych UPS (Ultraviolet Photoelectron Spectrosopy) oraz źródło elektronów FEG (Field Emission Gun) do badań techniką AES (Auger Electron Specroscopy). Dodatkowo spektrometr wyposażono w komorę typu CatCell, umożliwiającą prowadzenie analiz in situ struktury materiałów i katalizatorów w kontrolowanych warunkach: do 1000 °C i ciśnienia 4 bar. Dzięki temu możliwe jest prowadzenie badań w środowisku zbliżonym do rzeczywistych warunków pracy materiałów.
Kontakt: dr inż. Jacek Balcerzak
Skaningowy mikroskop elektronowy z mikroanalizą rentgenowską (SEM-EDS)
Skaningowy mikroskop elektronowy Thermo Fisher Scientific Apreo 2 S LoVac z mikroanalizą rentgenowską EDS EDAX pozwala na wysokorozdzielcze obrazowanie powierzchni preparatów zarówno w trybie pracy wysoko- jak i niskonapięciowym (od 0,5 kV do 30 kV). Urządzenie posiada możliwość pracy w standardowym trybie wysoko próżniowym oraz dodatkowo w trybie niskiej próżni, co jest istotne przy obrazowaniu materiałów nieprzewodzących. Układ został wyposażony w detektor EDS EDAX, który przeznaczony jest do pomiaru składu chemicznego powierzchni próbki oraz system do dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) Velocity Pro firmy Edax. Więcej: link.
Kontakt: dr inż. Magdalena Grala